磁粉探傷儀缺陷的顯示方法

磁粉探傷儀探傷常用的有X射線(xiàn)探傷儀和同位素γ射線(xiàn)探傷儀，分別稱(chēng)為X射線(xiàn)探傷儀和γ射線(xiàn)探傷儀。當這些射線(xiàn)通過(guò)一種物質(zhì)時(shí)，物質(zhì)的密度越大，輻射強度越低，也就是說(shuō)，射線(xiàn)通過(guò)物質(zhì)的強度越小。這時(shí)，如果用照相底片接收，底片的靈敏度很??；如果用儀器接收，得到的信號很弱。

因此，當用輻射照射待測超聲波探傷儀的零部件時(shí)，如果內部存在氣孔、夾渣等缺陷，則通過(guò)輻射缺陷路徑的材料密度要比通過(guò)輻射缺陷路徑的材料密度小得多。T缺陷，材料通過(guò)缺陷路徑的強度略有降低，即透射率較大，如果用負膜接收，光會(huì )被敏化。如果數量較大，垂直于射線(xiàn)方向的缺陷平面投影可以從底片上反射出來(lái)。如果使用其他接收器，垂直于射線(xiàn)方向的缺陷的平面投影和射線(xiàn)的傳輸也可以被儀器反射。

超聲頻率高，傳播線(xiàn)性強，在固體中傳播容易，遇到兩種不同介質(zhì)形成的界面容易反射，可用于探傷。通常，超聲波探頭與待探測工件表面接觸良好。該探頭能有效地將超聲波傳輸到工件上，并能接收來(lái)自（缺陷）界面的超聲波反射。同時(shí)，它可以轉換成電信號，然后傳送給儀器進(jìn)行超聲波探傷儀的處理。缺陷的位置可以根據超聲波在介質(zhì)中傳播的速度（通常稱(chēng)為聲速）和時(shí)間來(lái)確定。

缺陷檢測儀有許多顯示缺陷的方法。是否可以用磁粉顯示。磁粉探傷儀顯示被稱(chēng)為磁粉檢測。由于其直觀(guān)的顯示、簡(jiǎn)單的操作和人們使用它的意愿，它是最常用的方法之一。沒(méi)有磁粉顯示，通常稱(chēng)為漏磁檢測。它通常使用感應線(xiàn)圈、磁控管、霍爾元件來(lái)反映缺陷。探傷機比磁粉探傷更衛生，但不如磁粉探傷機直觀(guān)。